基線平直度對(duì)分析測(cè)試誤差的影響UV-1800

關(guān)鍵詞：基線平直度；美析儀器；UV-1100;UV-1800

　一、基線平直度的重要性(對(duì)分析測(cè)試誤差的影響)

　　如前面幾篇文章所述, 紫外可見分光光度計(jì)的光度噪聲直接影響儀器的信噪比,它是限制分析檢測(cè)濃度下限的主要因素。目前, 各國(guó)紫外可見分光光度計(jì)的生產(chǎn)廠商, 給出的整機(jī)光度噪聲都是指儀器在500nm 處的光度噪聲( 稱之為整機(jī)的光度噪聲) , 主要用于比較不同儀器的優(yōu)劣。而紫外可見分光光度計(jì)的使用者往往要在不同波長(zhǎng)上使用, 特別要在紫外區(qū)使用。所以, 只給出500 nm處的整機(jī)光度噪聲, 不能滿足使用者的要求。因此, 提出了基線平直度的概念。紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度是指每個(gè)波長(zhǎng)上的光度噪聲, 它是用戶zui關(guān)心的技術(shù)指標(biāo)之一。它是紫外可見分光光度計(jì)各個(gè)波長(zhǎng)上主要分析誤差的來源之一。它決定紫外可見分光光度計(jì)在各個(gè)波長(zhǎng)下的分析檢測(cè)濃度的下限。但是很可惜, 目前很多儀器制造者、使用者都還沒有認(rèn)識(shí)到或還沒有重視基線平直度這個(gè)技術(shù)指標(biāo)。

　　二、基線平直度的測(cè)試方法

目前, 上對(duì)紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度的測(cè)試方法一般是冷態(tài)開機(jī), 預(yù)熱0. 5h 后, 試樣和參比比色皿都為空氣, 光譜帶寬SBW = 2 nm, 吸光度值為0Ab s , 從長(zhǎng)波向短波方向?qū)x器進(jìn)行全波長(zhǎng)慢速( 或中速) 掃描。而后, 在全波長(zhǎng)范圍內(nèi), 找出峰-峰( P-P) 值中zui大的一點(diǎn), 作為該儀器的基線平直度。但是目前, 上有許多科技工作者不注意這個(gè)問題。如美析紫外可見分光光度計(jì), 給出的儀器波長(zhǎng)范圍是190～900nm , 給出的基線平直度BF 為±0. 001Abs。但是筆者經(jīng)測(cè)試后發(fā)現(xiàn)該儀器的基線平直度只能在200～800nm 內(nèi)才能保證為± 0. 001Abs。這就意味著該儀器能保證基線平直度為±0. 001Abs的使用波長(zhǎng)范圍只能是200～800nm, 這種給基線平直度的方法是不對(duì)的。它既偏離了基線平直度的定義(每個(gè)波長(zhǎng)上的噪聲) , 又會(huì)誤導(dǎo)使用者, 認(rèn)為該儀器在190～900nm 都能達(dá)到光度噪聲為±0. 001Abs。特別值得注意的是, 還有的公司把基線平直度和基線漂移混為一談。如國(guó)外的某公司,對(duì)某紫外可見分光光度計(jì)給出了“ 基線漂移為± 0. 002Abs ( 200～ 950nm)”和“ 基線漂移為N/ A” 的技術(shù)指標(biāo)。顯然, 這里的“ 基線漂移” 指的是基線平直度。而該儀器的波長(zhǎng)范圍為190 ～1100 nm, 但對(duì)波長(zhǎng)范圍為190 ～1100 nm 的儀器, 只給出200～950nm 的基線平直度是不合理的。尤其對(duì)某儀器給出的“ 基線漂移為N/ A”, 這種給法更是莫名其妙。另外, 該公司又給出了某紫外可見分光光度計(jì)儀器的“ 基線穩(wěn)定性為0. 001Ab s/ h”, 但未給出基線平直度。很顯然, 該公司既未搞清穩(wěn)定性的含義, 又把基線平直度和500 nm處的光度噪聲混為一談了。

三、影響基線平直度的主要因素

　　(1 ) 濾光片或光學(xué)元件上有灰塵此時(shí)會(huì)產(chǎn)生散射, 從而引起基線平直度變壞。

　　(2 ) 濾光片未安裝好用于不同波段不同的濾光片切換時(shí)會(huì)產(chǎn)生噪聲, 使基線平直度變壞。

　　(3 ) 光源( 氘燈、鎢燈) 切換時(shí)產(chǎn)生噪聲一 般在340 ～360nm 左右出現(xiàn), 從而使基線平直度變壞。

　　(4 ) 基線平直度測(cè)試時(shí)掃描速度太快也會(huì)使基線平直度變壞。

　　(5 ) 電子學(xué)方面的噪聲過大也會(huì)直接影響基線平直度, 特別是放大器和光電轉(zhuǎn)換元件的噪聲, 對(duì)基線平直度的影響更大。

　　(6 ) 光學(xué)部分未調(diào)整好特別是單色器的光路未調(diào)整好, 會(huì)使信號(hào)減小,信噪比變小, 使基線平直度變壞。

　　(7 ) 環(huán)境因素包括振動(dòng)、電場(chǎng)、磁場(chǎng)干擾、電壓不穩(wěn)等, 都會(huì)使基線平直度變壞。

　　四 、常見錯(cuò)誤

　　國(guó)內(nèi)外的許多科技工作者, 對(duì)紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度的重要性尚未引起足夠重視, 在基線平直度的運(yùn)用方面還有許多錯(cuò)誤。其具體表現(xiàn)

　　如下:

　　1. 制造商不給基線平直度

　　國(guó)內(nèi)外許多紫外可見分光光度計(jì)的制造商, 根本不給出儀器的基線平直度。

　　2. 盲目給基線平直度

　　國(guó)內(nèi)外許多制造商, 在給出紫外可見分光光度計(jì)的基線平直度時(shí), 千篇一律的寫成±0. 001Abs。

　　3. 給出錯(cuò)誤的基線平直度

　　以上三種作法都是不對(duì)的。其理由是: 如果不給基線平直度, 使用者將不知自己所使用的波長(zhǎng)上的噪聲或靈敏度, 不便選擇儀器條件。因此, 不易得到*分析結(jié)果。

　　五、如何保證或提高儀器的基線平直度指標(biāo)

　　1. 設(shè)計(jì)者

　　要從理論上搞清基線平直度的概念、要把基線平直度與整機(jī)的光度噪聲真正區(qū)分開來, 并在設(shè)計(jì)和使用時(shí)都要嚴(yán)格控制影響基線平直度的因素。

　　2. 制造者

　　要重視基線平直度對(duì)整機(jī)的影響! 生產(chǎn)中要重視對(duì)基線平直度的測(cè)試, 研究基線平直度的測(cè)試方法, 保證科學(xué)、準(zhǔn)確的測(cè)出基線平直度。并要在儀器說明書中明確給出整個(gè)波段范圍內(nèi)的基線平直度, 不能給出模棱兩可的基線平直度指標(biāo)。

　　3. 使用者

要重視基線平直度對(duì)分析測(cè)試誤差的影響, 要重視對(duì)自己所用儀器的基線平直度的檢測(cè), 一旦發(fā)現(xiàn)問題要及時(shí)解決。